产品编号： C12443
产品型号： S3500系列
原 产 地： 美国

仪器介绍
美国Microtrac公司的S3500系列激光粒度分析仪，原理上采用经典静态光散射技术和全程米氏理论
处理，利用现代模块式设计理念，使用获得专利的三激光光源技术，配备超大角度双镜头检测系统，
以对数方式排列151个高灵敏度检测单元，无需扫描，平行通道实时接受散射光信息，提供准确可靠
的测量信息。多种分散方式可选，干法与湿法测量之间的转换，系统自动识别，方便快捷。
S3500系列仪器完全符合ISO 13320-1粒度分析－激光衍射方法的技术标准及21 CFR PART 11 安全要
求，并被荣幸地指定为NIST标准物质认证仪器。 

Microtrac S3500系列产品
       增强型(Enhanced):湿法测量范围：0.02-2,800μm；干法测量范围：0.25-2,800μm
       扩展型(eXtended):湿法测量范围：0.02-1,500μm；干法测量范围：0.25-1,500μm
       特殊型(speciaL) :湿法测量范围：0.09-1,000μm；干法测量范围：0.70-1,000μm
       标准型(Standard):湿法测量范围：0.25-1,500μm；干法测量范围：0.25-1,500μm
       高端型(High)    :湿法测量范围：2.75-2,800μm；干法测量范围：2.75-2,800μm
       基本型(Basic)   :湿法测量范围：0.07-1,000μm；干法测量范围：0.07-1,000μm

主要特点

﹡  专利Tri-Laser激光系统, 完全消除了不同波长光源对颗粒散射光分布“连接点”的影响和
        多次米氏理论（Mie Theory）数学处理的误差（米氏理论处理与波长有关）。
   ﹡  固定多元检测器与三激光光源的灵巧配置，无需扫描，同步接受全量程散射光信号，保证分
        析结果的高重现性及全量程范围的高分辨率。
   ﹡  首家引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因子，内置常用分析物质光学数据库，
        提高颗粒粒度分布测试的准确性。
   ﹡  系统自动对光，内置辅助光源用于检验和校正检测器的灵敏度。
   ﹡  多种样品分散系统可供选择，各种分散系统之间的转换简单方便，结果稳定一致。
   ﹡  现代模块式设计，可根据实际应用需要允许选择仪器的配置，以满足将来的任何需要。
   ﹡  数据处理灵活方便，体积分布，数量分布和强度分布，微分与累计百分比以及其他综合报告
        形式任意组合，数据存储兼容性强。
   ﹡  NIST(National Institute of Standards & Technology)标准物质指定认证仪器。

技术参数﹡ 

 测量范围:0.02μm-2,800μm; 测量精度:0.6%; 测量时间:10-30 秒; 所需样品量:0.05-2g; 
        兼容性:与任何常用有机溶剂兼容
   ﹡  光源: 三束3mW 780nm固体二极管激光器, 电脑控制自动校准; 准直功能:电脑控制自动对光; 
        光路:固定光学平台,傅利叶光路结合双透镜技术
   ﹡  接受角度:0.02-163°; 检测器:高灵敏硅光电二极管; 检测器数量:151个对数方式优化排列
   ﹡  操作灵活:兼容 Windows 98, 2000, NT和XP等操作系统; 报告格式:体积,数量和面积分布,包
        括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据以ODBC形式输出兼容其他统计分析软件和文字
        处理软件; 安全性:数据的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求
   ﹡  环境要求:温度10-35℃; 相对湿度:小于90%; 电源要求:90-240 VAC, 5A, 50/60Hz; 主机
        尺寸:高度33cm, 宽度55.9cm, 深度37.5cm, 重量25Kg
   ﹡  标准化:符合ISO 13320-1 激光粒度分析国际标准
   ﹡  完整配置:固定光学平台, 样品分散系统, 计算机/打印机, 数据处理软件

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